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KC- 3105 功率半导体器件动态可靠性 HTRB/DHTRB测试系统
KC- 3105 功率半导体器件动态可靠性 HTRB/DHTRB测试系统
02月29日
现代宽禁带功率器件 (SiC, GaN) 上的开关晶体管速度越来越快，使得测量和表征成为相当大的挑战。与 HTRB高温偏置试验一 一对应，AQG324 该规定了动态偏置试验，即动态高温反偏（DHRB，Dynamic high-temperature reverse bias）
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