功能简介

金凯博KC- 3130 功率循环&热特性智能检测系统主要用于 Si/SiC/GaN 材料的 IGBT/DIODE/MOSFET /BJT/SCR 等器件的秒级功率循环（PCsec）、分钟级功率循环（PCmin）、热阻（抗）测试（Rth/Zth）和 K 曲线测试（TSP-Vpn）。整体架构模块化，通讯协议、通讯接口等采用统一标准，便于后期扩展和维护。在保证系统稳定运行的同时，可快速满足功率半导体可靠性测试需求。