泰克爲解決工程難題不斷創新,使用測試界的魔法棒——光隔離探頭,幫工程師一起破解SiC、GaN栅極動态測試難題。通過将探頭與示波器的電流隔開,IsoVu探頭完全改變了功率研究人員和策劃人員進行寬禁帶功率測量的方式。
泰克爲解決工程難題不斷創新,使用測試界的魔法棒——光隔離探頭,幫工程師一起破解SiC、GaN栅極動态測試難題。通過将探頭與示波器的電流隔開,IsoVu探頭完全改變了功率研究人員和策劃人員進行寬禁帶功率測量的方式。
SiC、GaN作爲嶄新一代功率半導體器件具有遠優于傳統 Si 器件的特性,能夠使得功率變換器獲得更高的效率、更高的功率密度和更低的系統成本。但同時,SiC、GaN極快的開關速度也給工程師帶來了使用和測量的挑戰,稍有不慎就無法獲得正确的波形,從而嚴重影響到器件評估的準确、電路策劃的性能和安全、項目完成的速度。SiC、GaN動态特性測量中,最難的部分就是對半橋電路中上橋臂器件驅動電壓VGS的測量,包括兩個部分:開關過程和Crosstalk。此時是無法使用無源探頭進行測量的,這會導緻設備和人員危險,同時還會由于跳變的共模電壓而無法獲得準确的結果。
SiC、GaN作爲嶄新一代功率半導體器件具有遠優于傳統 Si 器件的特性,能夠使得功率變換器獲得更高的效率、更高的功率密度和更低的系統成本。但同時,SiC、GaN極快的開關速度也給工程師帶來了使用和測量的挑戰,稍有不慎就無法獲得正确的波形,從而嚴重影響到器件評估的準确、電路策劃的性能和安全、項目完成的速度。SiC、GaN動态特性測量中,最難的部分就是對半橋電路中上橋臂器件驅動電壓VGS的測量,包括兩個部分:開關過程和Crosstalk。此時是無法使用無源探頭進行測量的,這會導緻設備和人員危險,同時還會由于跳變的共模電壓而無法獲得準确的結果。
IsoVu光隔離探頭
隔離探頭使用電(光學)或 RF隔離将探頭的參考電壓與示波器的參考電壓(通常接地)隔離。這使電源策劃人員能夠在存在大共模電壓的情況下準确解析高帶寬、高電壓的差分信号。泰克開發出一項新技藝 (IsoVu),該技藝使用電隔離在高帶寬内供應同類探頭中優秀的共模抑制性能。
與用于測量高壓信号的高帶寬傳統差分探頭相比,隔離性和高頻性相結合的 IsoVu 探頭爲電源策劃人員供應更精确的測量結果。應用實例涵蓋開關模式電源策劃、寬禁帶 GaN 和 SiC 設備的功率 FET 策劃/分析、逆變器策劃、電機驅動策劃、BCI 或 ESD 測量、電流分流器測量。
泰克第二代IsoVu光隔離示波器探頭推動第三代半導體擴展,爲電源工業帶來技藝革新。第二代IsoVu光隔離示波器探頭供應了無與倫比的帶寬、動态範圍、共模抑制以及多性能MMCX連接器的組合,爲上管Vgs測量設置了新的标準,策劃者終于能看到以前隐藏的信号特征。
主要特性
• 1 GHz光隔離探頭
• 更小的尺寸提升了DUT連接的便攜性
• 工業領先的的CMRR特性
• 完全光隔離技藝
• 完整測試系統
• 比第一代探頭體積縮小80%。