性能簡述

金凱博KC- 3130 功率循環&熱特性智能檢測系統主要用于 Si/SiC/GaN 材料的 IGBT/DIODE/MOSFET /BJT/SCR 等器件的秒級功率循環（PCsec）、分鍾級功率循環（PCmin）、熱阻（抗）測試（Rth/Zth）和 K 曲線測試（TSP-Vpn）。整體架構模塊化，通訊協議、通訊接口等采用統一标準，便于後期擴展和維持。在保證系統穩定運行的同時，可快速滿足功率半導體可靠性測試需求。