現代寬禁帶功率器件 (SiC, GaN) 上的開關晶體管速度越來越快，使得測量和表征成爲相當大的挑戰。汽車功率模塊測試标準AQG 324特别突出了功率循環試驗，在整個SiC-MOSFET壽命試驗相關内容中，功率循環試驗不僅被列爲首項， 且占據的篇幅超過其他所有試驗項目之和。金凱博KC-3130測試系統是多性能功率半導體器件熱學特性測試設備。主要用于 Si/SiC/GaN 材料的 IGBT/DIODE/MOSFET /BJT/SCR 等器件的秒級功率循環（PCsec）、分鍾級功率循環（PCmin）、熱阻（抗）測試（Rth/Zth）和 K 曲線測試（TSP-Vpn）。整體架構模塊化，通訊協議、通訊接口等采用統一标準，便于後期擴展和維持。 在保證系統穩定運行的同時，可快速滿足功率半導體可靠性測試需求。 

參考标準 JEDEC、MIL-STD-750E、GJB128A、AEC-Q101、IEC60747- 2/6 ch.  IV、IEC60747-9、JESD51-14

特點 

金凱博KC-3130功率循環&熱特性智能檢測系統包含： 

硬件平台+實時軟件

其中硬件平台包含 ：

FTG 大電流電源、水冷（油冷）夾具平台、FTL恒流源、測量采集控制模塊等。

主要特點如下: 

• 分鍾級/秒級功率循環：通過配套水循環控制，本系統可兼容分鍾級 和秒級（最低0.5S）的Power Cycling試驗

• 可配置包括功率循環試驗設備&K系數測試儀，相互獨立的雙系統，同 時測試，互不影響；

• 單平台配置2000A恒流源，并聯使用電源時，單平台最大可達6000A；

• 可測試IGBT/MOSFET/Diode等器件；

• 使用瞬态雙界面測試法獲取不同時刻下的瞬态熱阻抗曲線，通過算法 得到連續時間頻譜函數R(Z)和結構函數，得出熱阻值

• 互補輸出：提高測試樣品數量；栅極漏電流監測：失效預測

軟件界面

金凱博KC-3130功率循環&熱特性智能檢測系統軟件性能完備并高可擴展性，基于LINUX平台開發，穩定高效、配備工控機。保存與記錄試驗數據，漏電流、溫度、故障信号、工作時長、漏源電壓變化率等。

金凱博KC-3130功率循環&熱特性智能檢測系統數據管理性能完整，具有操作界面與上位機，可達成數據自動保存與生成測試報告。

商品性能

測試精度

• 恒溫系統溫控精度:±0.5℃;

• 恒溫闆 A/B:溫控精度爲±0.5℃，分辨率01℃，溫控範圍:10-60C;

• 恒溫闆C:溫控精度爲士0.5℃，分辨率0.1℃，溫控範圍:-35-200C;

• 導通壓降測量精度:土150uV;

• 結溫測試精度:±2℃;

• 冷闆及殼溫測試精度:≤2℃;

• 栅極電流檢測:範圍0.1nA-10000nA;分辨率15pA;

測試容量與其他

• PCsec/PCmin最多可測試8隻樣品

• Zth/Rth/Kcurve每次隻能測試1隻樣品

• 設備配有 3D 自由夾具，方便常見封裝形式的安裝固定幫助恒電流模式、恒結溫模式、恒功率模式幫助SECS/GEM協議遠程監控試驗

• 超大功率水冷箱一台

• 進口高精度水冷箱一台