完整的制造測試，無需犧牲空間

滿足您的所有制造測試需求，在同一空間内有兩條完全隔離的寬動态源和測量通道。 每條 40 W 通道供應 6½ 位精确分辨率源，在小于 100 µs 脈沖寬度和設定值的 0.1% 範圍内，測量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

使用 2600B 簡化 FET 測試

特點

在同一空間内可有 2 條通道

最寬的電壓和電流動态範圍

高度準确的 100 µs 脈沖可擴展直流制造測試能力

嵌入式腳本供應無與倫比的制造吞吐量

滿足您的所有制造測試需求，在同一空間内有兩條完全隔離的寬動态源和測量通道。 每條 40 W 通道供應 6½ 位精确分辨率源，在小于 100 µs 脈沖寬度和設定值的 0.1% 範圍内，測量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

使用 2600B 系列進行二極管制造測試

特點

消除與 PC 之間耗時的總線通信

高級數據處理和流量控制

通用型探頭/處理程序控制

系統性能，無主機

TSP-Link® 技藝幫助擴展多達 64 條通道，幫助高速、SMU-per-pin 并行測試（而不使用主機）。<500 ns 時所有通道同時獨立受控。

使用 Keithley 2600B 系列儀器增加多引腳設備的制造吞吐量

特點

幫助<500 ns 通道間同步

可達 32 條或 64 條獨立 SMU 通道

随着測試要求變化輕松重新配置

适合制造的最佳低電流性能

2635B 和 2636B SMU 在最低 100 pA 範圍内供應 0.1 fA、10-16 分辨率，減少超低電平樣本檢定煩惱，确保制造成功。

特點

在最低電流範圍内穩定時間快 7 倍

具有市面上的最佳低電流分辨率

直接三芯同軸連接簡化了設置