設備簡述

金凱博功率半導體高精度靜态特性測試系統KC-3110，基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規級模塊的新興要求而進行的一次高标準商品開發。本系統可以在3KV和1000/2000A的條件下達成精确測量和參數分析，漏電流測試分辨率高達fA級，電壓測試分阱率最高可這nV級，以及3000V高壓下的寄生電容的精密測量。全自動程控軟件，圖型化上位機操作界面。内置開關切換矩陣保證測試效率。模塊化結構策劃預留升級擴展潛能。測試接口可外挂各類夾具和适配器，還能夠通過專用接口連接各種Handler：如分選機、機械手、探針台、編帶機等。

适用商品

金凱博功率半導體高精度靜态特性測試系統KC-3110可測Si, SiC, GaN材料的IGBTs, DIODEs, LED, MOSFETs, BJTs, HEMTs, 電容，光耦，

參考标準

IEC 60747-8/9 半導體分立器件第8/9部分/JEDEC标準

設備特點

金凱博功率半導體高精度靜态特性測試系統KC-3110包 含 ： 硬 件 平 台 + 實 時 軟 件 ， 可 測 試 靜态特性、IV 曲線、容阻測試（Rg、Cxss）、CV 曲線；，主要特點如下:

适用于功率器件、功率模塊直流特性分析，最高可達3000V/1000A在高達3000V直流偏置下，完全自動化的電容（ Ciss、 Coss、Crss等）測量；

高效率：内置開關矩陣，自動切換測量單元，提高制造測試效率；

模塊化：根據測試需求搭配不同規格測量單元。

在線高低溫箱:選裝-50℃~﹢150℃(最高 200℃)專用高精度實時在線高低溫箱，幫助 48 工位和 98 工位。圓形旋轉盤，溫度均勻性優秀選配溫控模塊也可與第三方溫箱達成聯動控制。

具備數據管理性能，上位機可達成數據曲線、報告及自動保存；

IV曲線：2K點以内的 IV 曲線實時掃描；

 CV曲線：栅電阻 Rg、反向傳輸電容 Cres、輸入電容 Cies、輸出電容 Coes、CV 曲線

軟件界面

軟件性能完備并高可擴展性，基于LINUX平台開發，穩定高效、配備工控機。 保存與記錄試驗數據.

數據管理性能完整，具有操作界面與上位機，可達成數據自動保存與生成測試報告

技藝參數-金凱博功率半導體高精度靜态特性測試系統KC-3110