在半導體功率器件（如IGBT、SiC、GaN）的研制與量産測試中，功率循環測試是評估器件可靠性的關鍵環節。如何選擇一款高精度、高效率、高穩定性的測試設備，直接影響商品的壽命預測和市場競争力。

金凱博KC-3130功率循環測試系統，專爲車規級（AEC-Q101）、工業級（JEDEC）及第三代半導體（SiC/GaN）測試需求打造，供應全自動化、高精度、可擴展的測試解決方案，助力産業提升測試效率，降低研制成本！

爲什麽選擇金凱博KC-3130？

1. 高精度控制，滿足嚴苛測試标準

溫度控制精度±0.5°C，幫助紅外熱像儀+熱電偶雙校準，确保結溫（Tj）測量準确

電流/電壓測量誤差≤±0.5%，采用四線法測量，消除導線電阻影響

符合JEDEC JESD22-A104、AEC-Q101、IEC 60747-9等國際标準

2. 大功率範圍，覆蓋主流功率器件

電流輸出：0-3000A（可定制更高），滿足IGBT模塊、SiC MOSFET、GaN HEMT測試需求

電壓範圍：0-4500V，适配車規級、光伏、工業電源等高壓應用

3. 全自動化測試，提升效率

多通道并行測試（幫助8-16通道），大幅縮短測試周期

智能失效判定，實時監測Ron、熱阻、栅極漏電等關鍵參數

一鍵生成報告，幫助MES系統對接，達成數據可追溯

4. 模塊化策劃，靈活擴展

幫助液冷/風冷溫控，适應不同ΔT測試需求（-40°C~+250°C）

可搭配雙脈沖測試（DPT）性能，同步評估動态特性

開放式API接口，幫助Python/LabVIEW二次開發

典型應用場景

車規級功率模塊（AEC-Q101認證）

SiC/GaN器件可靠性評估

光伏逆變器、工業電機驅動測試

高校/研究所功率器件壽命研究